| 科目名 |
卒業研究 |
| 担当教員 |
真田 克 |
| 対象学年 |
4年 |
クラス |
学部：専門006 |
| 講義室 |
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開講学期 |
通年 |
| 曜日・時限 |
時間外 |
単位区分 |
選択 |
| 授業形態 |
一般講義 |
単位数 |
8 |
| 準備事項 |
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| 備考 |
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| 授業の詳細1 |
テーマ
1. Open故障の現象とソフト開発及び、VDEC利用によるサンプル設計
2. トランジスタ動作点解析による故障診断ソフトの機能強化、故障伝搬のトレースや順序回路への適用
3. OBICによる故障モードの検出と新たな応用を検討
4. 液晶塗布法によるLSI内部の異常発熱検出技術の確立と使用液晶の人体に無害な物質の検討
5. 液晶塗布法による論理動作のVisual化
6. RIE加工よるLSIのダメッジ及び、ダメッジのSEM、TEMなどを用いた観察とプラズマ工学の基礎を学ぶ
7. 冷却CCDを用いた異常発光の観察法の確立 〜1100μm帯域の発光と分光による識別
8. IDDQ故障診断のソフトウエア開発,PC化のソフトウエア開発,フーリエ級数の基礎を学ぶ
9. VDEC利用による解析評価用システムLSIの設計と作成及び、評価
10.ESD破壊器の設計と作成、及び、EDS破壊による物理的、電気的評価
11.FPGAを用いて簡易テストシステムを設計・作成
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| 授業の詳細2 |
基本事項として、LSIレイアウトより回路を読みとる力が必須である。
必要の都度、講義やセミナを検討する。 |
| 授業の詳細3 |
「実験の目的」
LSI内部に発生した故障をソフトウエアとハードウエアを用いて診断、解析する力を身につけることを目的とする。
前者に関しては、論理故障情報を用いた方法と電源電流を用いた方法がある。
後者に関しては、故障に伴う物理現象として異常発熱、異常発光、異常電流がある。
これら各々は液晶塗布によるHotspot検出、冷却CCD利用による発光識別、OBIC（光励起電流）利用論理判定がある。
現在、これらの方式を組合せることで精度向上を図る検討を行なっている。
「授業の進め方」
各人に割り振られた各アイテムに対して責任をもって実験計画し、実行する
２ヶ月に１回の割りで各人の進捗や問題点を議論する。全員で議論する。
「授業の目標」
１ 調査した内容を簡潔にまとめる力を身につける
２ 発表内容を的確に人に伝える力を身につける
３ 問題点の検出能力を身に着ける
以上、実験・調査・発表することを主眼に、技術者・研究者としての基本姿勢を身に着けることを目標とする。
「成績評価の基準」
ＡＡ：特に優れた成績を示したもの
Ａ ：優れた成績を示したもの
Ｂ ：良好と認められる成績を示したもの
Ｃ ：合格と認められる成績を示したもの
Ｆ ：不合格 |
| 授業の詳細4 |
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| 授業の詳細5 |
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| 授業の詳細6 |
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| 授業の詳細7 |
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| 授業の詳細8 |
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| 授業の詳細9 |
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| 授業の詳細10 |
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