| 科目名 |
セミナー１ |
| 担当教員 |
真田 克 |
| 対象学年 |
1年 |
クラス |
院：専門065 |
| 講義室 |
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開講学期 |
１学期 |
| 曜日・時限 |
時間外 |
単位区分 |
選択 |
| 授業形態 |
一般講義 |
単位数 |
2 |
| 準備事項 |
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| 備考 |
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| 授業の詳細1 |
「セミナの目的」
微細化、大規模化、多層配線構造化に伴い問題となっている故障に関して研究を行なうことを目的とする。
また、研究を行なっていく上で必要な計画立案や問題点識別を主眼に、技術者・研究者としての基本姿勢を身に着けることを目的とする。
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| 授業の詳細2 |
「セミナ項目」
１ LSIの故障の特徴
２ 故障原因と故障メカニズム
３ 品質保証のためのフロー
機能評価としてのテステイング技術
信頼性試験
故障診断・解析技術
寿命データ解析
４ 信頼性評価モデル
５ 故障解析フロー
PKGからの解析
チップ上の解析
６ 寿命データ解析
ワイブル分布、アレニウスプロットなど
７ 具体的故障解析内容
以上を輪講形式で質疑応答しながら知識を高めていく
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| 授業の詳細3 |
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| 授業の詳細4 |
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| 授業の詳細5 |
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| 授業の詳細6 |
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| 授業の詳細7 |
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| 授業の詳細8 |
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| 授業の詳細9 |
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| 授業の詳細10 |
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