| 科目名 |
セミナー４ |
| 担当教員 |
真田 克 |
| 対象学年 |
2年 |
クラス |
院：専門062 |
| 講義室 |
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開講学期 |
２学期 |
| 曜日・時限 |
時間外 |
単位区分 |
選択 |
| 授業形態 |
一般講義 |
単位数 |
2 |
| 準備事項 |
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| 備考 |
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| 授業の詳細1 |
LSIの故障解析技術・故障診断技術の最新情報を調査し、発表する。
前者に関して、電子、電界、光、テラヘルツ電磁波、磁場、振動、超音波、γ線、X線、固体プローブなどあり
これらの特徴と適用範囲、事例をまとめる。
後者に関して、論理情報と電源電流情報を用いた診断技術があり、更に各技術は独自に発展を遂げている。
情報の分析や数理統計を用いたパラメータの顕在化を行なうことでDSMに対応してきている。
これらの内容を分析し、以降の展開への可能性を研究する。 |
| 授業の詳細2 |
セミナー形式による、調査内容や吟味内容の議論を中心に進める。
さらに、各テーマに対して独自の考えを組み込むためのアドバイスを行なう。
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| 授業の詳細3 |
上記内容を通して、知的所有権の重要性を伝える。
又、簡単な特許文書の作成（請求項）を演習する。 |
| 授業の詳細4 |
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| 授業の詳細5 |
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| 授業の詳細6 |
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| 授業の詳細7 |
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| 授業の詳細8 |
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| 授業の詳細9 |
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| 授業の詳細10 |
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