| 科目名 |
特別研究 |
| 担当教員 |
真田 克 |
| 対象学年 |
2年 |
クラス |
院：専門054 |
| 講義室 |
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開講学期 |
通年 |
| 曜日・時限 |
時間外 |
単位区分 |
必修＊ |
| 授業形態 |
一般講義 |
単位数 |
8 |
| 準備事項 |
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| 備考 |
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| 授業の詳細1 |
「研究の目的」
微細化、大規模化、多層配線構造化に伴い問題となっている故障に関して研究を行なうことを目的とする。
また、研究を行なっていく上で必要な計画立案や、学会などで発表することを主眼に、技術者・研究者としての基本姿勢を身に着けることを目的とする。
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| 授業の詳細2 |
「研究項目」
１ オープン故障個所の識別を目的とした、電気的特性、物理的特徴の研究を行なう。
調査用LSIはVDEC利用による故障を組み込んだ回路サンプル、レーザ照射による故障作成サンプルを用いる。
２ 論理情報と電源電流情報を用いた論理故障箇所の特定ソフトウエアの研究開発を行う。
大規模化、微細化とともに後者情報は使えなくなってきているため、過去の調査からレイアウト上の故障の特徴を特定し、レイアウト情報から自動抽出する工夫を行う。
シミュレーションはスイッチング・レベル・シミュレーションによるスイッチングパスをトランジスタの動作点解析から算出したインピーダンス値を持つ抵抗体に置き換えることで診断する。
３ LSIの回路動作をビジュアルに観察するための画像解析技術の研究開発を行う。
液晶の回転が電界に同期して変化することを利用する。回転による反射光に違いで電圧値をモニタする。
電子ペーパや半透明電極をコーテイングしたZnOシートを用いることで簡易なシステムを構築する。
又、無害な液晶の調査を行う。電界に同期する液晶反応の調査を行なう。 |
| 授業の詳細3 |
「研究の進め方」
各人に割り振られた各アイテムに対して、月１回の割りで進捗、問題点、成果などを全員で議論する。基本的なスタイルはセミナ形式で行なう。
基本的に年１回以上は学会発表を目標とした、時間制約を持たせた研究活動を進める。
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| 授業の詳細4 |
研究は2年かけて実施する |
| 授業の詳細5 |
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| 授業の詳細6 |
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| 授業の詳細7 |
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| 授業の詳細8 |
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| 授業の詳細9 |
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| 授業の詳細10 |
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