教員情報詳細
廖 望LIAO Wang
- 1992年生まれ 男性
- 職位： 助教
- 所属： 学群 システム工学群
教員略歴
| 学位 |
博士学位（情報科学）
修士学位（工学） 学士学位（工学） |
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|---|---|---|
| 学歴 |
大阪大学情報科学研究科情報システム工学 修了（2019）
東北大学（中国）情報科学研究科制御工学 修了（2015） 瀋陽工業大学（中国）電気工学部制御工学 卒業（2013） |
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| 職歴 |
高知工科大学システム工学群 助教（2019～）
大阪大学大学院情報科学研究科 招へい研究員（2019～2021） |
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| 資格 | ||
| 専門分野 | VLSI | |
| 研究室 | 名称 | |
| 詳細 | ||
| 所属学会 | IEEE | |
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本年度担当講義
| 学部・学群 | |
|---|---|
| 大学院 |
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研究シーズ
| 現在の研究 | Soft error |
|---|
メッセージ
研究業績
主な受賞歴など
- RADECS 2017 Best Paper（2018）
代表的な研究論文
| タイトル | 著者 | 発表誌 | 発表年 |
|---|---|---|---|
| Impact of the Angle of Incidence on Negative Muon-induced SEU Cross Sections of 65-nm Bulk and FDSOI SRAMs | Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Seiya Manabe，Yukinobu Watanabe，Shin-ichiro Abe，Motonobu Tampo，Soshi Takeshita，Yasuhiro Miyake | IEEE Trans. on Nucl. Sci. | 2020 |
| Measurement of Single-Event Upsets in 65-nm SRAMs Under Irradiation of Spallation Neutrons at J-PARC MLF | Junya Kuroda，Seiya Manabe，Yukinobu Watanabe，Kojiro Ito，Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Shin-ichiro Abe，Masahide Harada，Kenichi Oikawa，Yasuhiro Miyake | IEEE Trans. on Nucl. Sci. | 2020 |
| Irradiation Test of 65 nm Bulk SRAMs with DC Muon Beam at RCNP MuSIC Facility | Takumi Mahara，Seiya Manabe，Yukinobu Watanabe，Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Takeshi Y. Saito，Megumi Niikura，Kazuhiko Ninomiya，Dai Tomono，Akira Sato | IEEE Trans. on Nucl. Sci. | 2020 |
| Similarity Analysis on Neutron- and Negative Moun-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM | Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Seiya Manabe，Shin-ichiro Abe，Yukinobu Watanabe | IEEE Trans. on Nucl. Sci.，Vol.66，No.7，pp.1390-1397 | 2019 |
| Estimation of Muon-Induced SEU Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs | Seiya Manabe，Yukinobu Watanabe，Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Shin-ichiro Abe | IEEE Trans. on Nucl. Sci.，Vol.66，No.7，pp.1398-1403 | 2019 |
| Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs | Shin-ichiro Abe，Wang LIAO，Seiya Manabe，Tatsuhiko Sato，Masanori Hashimoto，Yukinobu Watanabe | IEEE Trans. on Nucl. Sci.，Vol.66，No.7，pp.1374-1380 | 2019 |
| Analyzing Impacts of SRAM, FF and Combinational Circuit on Chip-Level Neutron-Induced Soft Error Rate | Wang LIAO，Masanori Hashimoto | IEICE Trans. Electron.，Vol.E102-C ，No.4，pp.296-302 | 2019 |
| Measurement and Mechanism Investigation of Negative and Positive Muon-Induced Upsets in 65-nm Bulk SRAMs | Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Seiya Manabe，Yukinobu Watanabe，Shin-ichiro Abe，Keita Nakano，Hikaru Sato，Tadahiro Kin，Koji Hamada，Motonobu Tampo，Yasuhiro Miyake | IEEE Trans. on Nucl. Sci.，Vol.65，No.8，pp.1734-1741 | 2018 |
| Negative and Positive Muon-Induced Single Event Upsets in 65-nm UTBB SOI SRAMs | Seiya Manabe，Yukinobu Watanabe，Wang LIAO，Masanori Hashimoto，Keita Nakano，Hikaru Sato，Tadahiro Kin，Shin-ichiro Abe，Koji Hamada，Motonobu Tampo，Yasuhiro Miyake | IEEE Trans. on Nucl. Sci.，Vol.65，No.8，pp.1742-1749 | 2018 |
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学会発表・講演など
- Characterizing Energetic Dependence of Low-Energy Neutron-induced MCUs in 65 nm bulk SRAMs，International Reliability Physics Symposium (IRPS)（2020）
- Impact of Incident Angle on Negative Muon-induced SEU Cross Section of 65-nm Bulk and FDSOI SRAM，European Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS)（2019）
- Negative and Positive Muon-induced SEU Cross Sections in 28-nm and 65-nm Planar Bulk CMOS SRAMs，International Reliability Physics Symposium (IRPS)（2019）
- Similarity analysis on neutron- and negative moun-induced MCUs in 65-nm bulk SRAM，European Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS)（2018）
- Measurement and Mechanism Investigation of Negative and Positive Muon-Induced Upsets in 65nm Bulk SRAMs，European Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS)（2017）
- Contributions of SRAM, FF and Combinational Circuit to Chip-Level Neutron-Induced Soft Error Rate -- Bulk vs. FD-SOI at 0.5 and 1.0V --，International NEWCAS Conference（2017）
社会貢献及び広報活動
