教員情報詳細

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橘 昌良Masayoshi Tachibana

  • 1959年生まれ 男性
  • 職位: 教授
  • 所属:
  • システム工学群
    大学院工学研究科 基盤工学専攻 電子・光システム工学コース

教員略歴

学位 工学博士
学歴 早稲田大学理工学部電子通信学科 卒業(1981)
職歴 早稲田大学理工学部助手
(株) 東芝超LSI研究所
カリフォルニア大バークレイ校客員研究員
(株) 東芝セミコンダクター社システムLSI設計統括部
資格
専門分野 システムLSI設計
LSI CAD
研究室 名称 回路工学研究室
詳細 電子回路全般、おもにアナログ回路の回路構成や設計手法について研究をおこなっています。現在のおもな研究テーマはアナログ・ミクスドシグナルLSIのBIST(Build-In Self Test)で、システムの空き時間を利用して回路を間欠的にテストすることにより回路の故障を発見することを目的としています。故障した回路を予備の回路と入れ替えることが出来れば、信頼性の高いアナログ回路を含むシステムが実現できます。
所属学会 電子情報通信学会
情報処理学会
IEEE

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本年度担当講義

学部・学群 アナログ回路 / 情報処理概論 / 回路・回路網 / 情報科学1 / システム工学実験
大学院 集積回路設計論

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研究シーズ

相談可能な領域 組み込みシステム
システムLSIの開発
LSI設計支援系の開発
現在の研究 ハードウェア/ソフトウェア協調設計環境に関する研究

アナログ・ミックスド・シグナルLSIの設計に関する研究

メッセージ

研究業績

代表的な研究論文

タイトル 著者 発表誌 発表年
Robustification of a One-Dimensional Generic Sigmoidal Chaotic Map with Application of True Random Bit Generation Nattagit Jiteurtragool,Masayoshi Tachibana,Wiml San-Um Entropy,Vol.20,No.2 2018
Phase difference analysis technique for parametric faults BIST in CMOS analog circuits Chatchai Wannaboon,Nattagit Jiteurtragool,Wimol San-um,Masayoshi Tachibana IEICE Electronics Express,Vol.15,No.9 2018
A 0.18-μm CMOS high-data-rate true random bit generator through ΔΣ modulation of chaotic jerk circuit signals Wannaboon, Chatchai,Masayoshi Tachibana,San-Um, Wimol Chaos: An Interdisciplinary Journal of Nonlinear Science 2018
A simple current-reversible chaotic jerk circuit using inherent tanh(x) of an opamp Masayoshi Tachibana,Wilml San-Um IEICE Electronics Express,Vol.14,No.17,pp.1-7 2017
A resistance matching based self-testable current-mode R-2R digital-to-analog converter TACHIBANA, Masayoshi,Yuan Jun IEICE Electronics Express,Vol.10,No.23,pp.1-7 2013
A common-mode BIST technique for fully-differential sample-and-hold circuits TACHIBANA, Masayoshi,Jun Yan IEICE Electronics Express,Vol.9,No.13,pp.1128-1134 2012
A Low-Cost High-Speed Pluse Response Based Built-In self Test for Analog Integrated Circuits Tachibana Masayoshi,Wimol San-Um ECTI Trans. On Electrical Eng.,Electronics, and Communications 2010
An On-Chip Analog Mixed-Signal Testing Compliant with IEEE 1149.4 Standard Using Fault Signature Characterization Technique Tachibana Masayoshi,Wimol San-Um ECTI Trans. On Electrical Eng.,Electronics, and Communications 2010
A Fault Signature Characterization Based Analog Circuit Testing and the Extension of IEEE 1149.4 Standard Wimol San-UM,Masayoshi Tachibana IEICE Transactions on Information and Systems,Vol.E93-D,No.1 2010
A Impulse Signal Generation and Measurement Technique for Cost-Effective Built-In Self Test in Analog Mixed-Singal Systems Wimol San-UM,Masayoshi Tachibana Proceedings of the IEEE International Midwest Symposium on Circuit and Systems 2009
A Compact on-Chip Testing Scheme for Analog-Mixed Signal System Using Two-Step AC and DC Fault Signature Characterizations Wimol San-UM,Masayoshi Tachibana Proceedings of the 15th Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Technologies,pp.428-443 2009
Optical Micro Cell System: Smart Optical Wireless Access Data-Communication for Moving-User Terminals M.Tachibana Japanese Journal of Applied Physics,Vol.45,No.8B,pp.6762-6766 2006
DSMテクノロジーを想定した Embedded Processor のハードウェア/ソフトウェア協調設計環境 大附辰夫,戸川望,橘 昌良 STARC シンポジュウム 2006,Vol.A-10 2006
Design of Transmitting and Recieving Section of Optical Wireless Access using PLL Ampornrat Posri,Masayoshi Tachibana IQEC and CLEO-PR 2005,Vol.CThC3-P31,pp.1410-1411 2005
システムレベル設計フローと設計言語 橘 昌良 情報処理,Vol.45,No.5,pp.456-463 2004
Syntjesize Pass Transistor Logic Gate by Using Free BinaryDecision Diagram M.Tachibana IEEE ASIC Conf.,pp.201-205 1997
Power and Area Minimization by Reorganizing CMOS Complex-Gates; M.Tachibana,S.Kurosawa,R.Nojima,N.Kojima,M.Yamada,T.Mitsuhashi,N.Goto IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences,pp.312-320 1996
Heuristic Algorithms for FBDD node Minimization with Application to Pass-Transistor-Logic and DCVS Synthesis M.Tachibana SASIMI'96,pp.96-101 1996

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主な特許

  1. 光無線通信システム, 光通信方式, 光無線基地局及び送受信端末(特願2004-250797)

科学研究費

KAKENは国立情報学研究所が行っているサービスです。

区分 研究課題 研究種目 研究期間 課題番号
代表 間欠動作型故障検出システムを用いたアナログ混載LSIの高信頼化 基盤研究(C) 2011 - 2013 23500067
代表 間欠型BISTシステムを用いたAMSシステムLSIの高信頼化 基盤研究(C) 2014/04/01 - 2017/03/31 26330070
代表 故障検出機構を用いた多重化によるAMSシステムの高信頼化 基盤研究(C) 2018/04/01 - 2021/03/31 (予定) 18K11222

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社会貢献及び広報活動

学外委員・学会活動など

  1. 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会専門委員(2015~2017)
  2. 電子情報通信学会 電子情報通信学会四国支部編集顧問会委員(2013~2016)
  3. 電子情報通信学会 電子情報通信学会 会誌編集委員(2013~2015)
  4. 情報処理学会 システムLSI設計技術研究運営委員(2013~2014)
  5. 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会専門委員(2013~2015)
  6. 電子情報通信学会 回路とシステム研究専門委員(2011~2013)
  7. 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会専門委員(2011~2013)
  8. 電子情報通信学会 電子情報通信学会四国支部編集顧問会委員(2011~2013)
  9. 情報処理学会 システムLSI設計技術研究運営委員(2010~2013)

一般講演など

  1. 機械で計算する ーコンピュータの中での計算ー,高知県立追手前高校(2011)
  2. 機械で計算する ーコンピュータの中での計算ー,香川県立多度津高校模擬授業(2011)